RE: CARACTERIZACIÓN ESTRUCTURAL POR DIFRACCIÓN DE RAYOS X (DRX) DE UNA SOLUCIÓN SÓLIDA SUSTITUCIONAL DEL MATERIAL SEMICONDUCTOR Fe2-2XMn2XGeSe4

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cuarzo05 (51)in #stem-espanol • 7 years ago

Saludos @marynes5, muchas gracias por su comentario. Cualquier duda o consulta sobre el tema estamos a la orden

7 years ago in #stem-espanol by cuarzo05 (51)

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